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多功能原子力顯微鏡是一種具有高分辨率的表面分析儀器，能夠提供物質表面微觀結構的三維圖像。與傳統的光學顯微鏡或電子顯微鏡不同，AFM不依賴任何形式的光學或電子成像，而是通過探針與樣品之間的物理作用力來獲取表面信息。AFM使用一個微小的探針（通常由硅或氮化硅制成，尖非常尖銳），在樣品表面進行掃描。探針固定在柔性的懸臂上，當......

多功能原子力顯微鏡是一種先進的顯微鏡技術，可以用于觀察和研究材料和生物樣品的表面形貌、物理性質以及納米尺度上的力學性質。通過不斷改進和創新，它將在材料科學、生物醫學研究、納米電子學和材料力學等領域發揮更加重要的作用，并促進相關領域的科學發展和技術進步。多功能原子力顯微鏡基于原子尺度下相互作用力的測量和控制。其主要原理是......

原子力顯微鏡探針是一種重要的納米測量和成像工具，具有高分辨率和精準度。它利用一個非接觸式探針來感知樣品表面的微小力，并通過測量這些力來獲取樣品的拓撲圖像和力學性質。AFM的核心部分是探針，也稱為探頭或探針尖。探針通常由單晶硅制成，其尖呈錐形或球形。它的尺寸通常在幾十納米到幾微米之間，取決于應用需求。探針尖的尖銳程度對于......

多功能原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，AFM）是一種重要的納米尺度表面形貌和力學性質測量工具。它利用微小的探針來掃描樣品表面，并通過測量應力或位移來生成高分辨率的圖像。它具有廣泛的應用領域，包括材料科學、納米技術、生物醫學等。通過不同模塊的組合，可以實現對材料的形貌、力學、電學和磁學性質的綜合......